明数字万用表检测的方法,检测电路如图1
。检测时将光耦内接二极管的+端{1}脚和-端{2}脚分别插入数字万用表的Hfe的c、e插孔内,
数字万用表应置于NPN挡;然后将光耦内接光电三极管c极{5}脚接指针式万用表的黑表笔,e极{4}脚接红表笔,并将指针式万用表拨在R×1k挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度——
上是光电流的变化,来判断光耦的
。指针向右偏转角度越大,说明光耦的光电转换效率越高,即传输比越高,反之越低;若表针不动,则说明光耦已损坏。
。将万用表置于R×1k电阻挡,两表笔分别接在光耦的输出端{4}、{5}脚;然后用一节1.5V的电池与一只50~100Ω的电阻串接后,电池的正极端接PC111的{1}脚,负极端碰接{2}脚,
正极端碰接{1}脚,负极端接{2}脚,
观察接在输出端万用表的指针偏转
。
指针摆动,说明光耦是好的,
不摆动,则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大,表明光电转换灵敏度越高。 容-源-电-子-网-为你提供技术支持
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